Патент США №3780298 на изобретение способа сканирования объектов и сканирующий микроскоп для его осуществления — 5700074

Патент США №3780298 на изобретение способа сканирования объектов и сканирующий микроскоп для его осуществления

Контакты

  • Адрес: г Санкт-Петербург, г Санкт-Петербург, ул Куйбышева, д 2-4